中安电子取得晶圆测试设备相关专利，晶圆老化测试设备用于晶圆盘可靠性测试_市场解读

中安电子取得晶圆测试设备相关专利，晶圆老化测试设备用于晶圆盘可靠性测试

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2026-01-24 10:09:12

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1月24日消息，国家知识产权局信息显示，杭州中安电子股份有限公司申请一项名为“晶圆老化测试设备”的专利，授权公告号CN309744968S，授权公告日为2026年1月23日。申请号为CN202530274489.0，申请公布日期为2026年1月23日，申请日期为2025年5月16日，发明人卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐，专利代理机构杭州浙言专利代理事务所（普通合伙），专利代理师李璐，分类号10-05(15)。

专利摘要显示，1.本外观设计产品的名称：晶圆老化测试设备。2.本外观设计产品的用途：用于晶圆盘可靠性测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。

天眼查数据显示，杭州中安电子股份有限公司成立日期1999年8月24日，法定代表人卜建明，所属行业为仪器仪表制造业，企业规模为小型，注册资本3374.9976万人民币，实缴资本3374.9976万人民币，注册地址为浙江省杭州市余杭区余杭街道圣地路6号2幢。杭州中安电子股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目217次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息69条，拥有行政许可21个。

杭州中安电子股份有限公司近期专利情况如下：

序号	专利名称	专利类型	法律状态	申请号	申请日期	公开(公告)号	公开(公告)日期	发明人
1	一种无功老化的测试线路	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202510662985.2	2025-05-22	CN120490643A	2025-08-15	柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城
2	无功老化测试设备	外观专利	授权	CN202530274528.7	2025-05-16	CN309665871S	2025-12-12	卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐
3	晶圆老化测试设备	外观专利	授权	CN202530274489.0	2025-05-16	CN309744968S	2026-01-23	卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐
4	一种能馈型DC/DC试验方法和装置	发明专利	实质审查的生效、实质审查的生效、公布	CN202510273770.1	2025-03-10	CN120103205A	2025-06-06	翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
5	一种适用于半导体行业的模温机	实用新型	授权	CN202520033907.1	2025-01-08	CN223582385U	2025-11-21	李吉雷、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
6	一种晶圆老化测试装置	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202510022075.8	2025-01-07	CN119556113A	2025-03-04	周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
7	一种用于晶圆老化测试的夹具	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202510022272.X	2025-01-07	CN119689220A	2025-03-25	周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
8	一种用于晶圆老化的测试台	实用新型	授权	CN202520031456.8	2025-01-07	CN223796648U	2026-01-13	左小波、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
9	一种自适应温度控制方法及装置	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202411888717.4	2024-12-20	CN119717957A	2025-03-28	胡世松、柴俊标、卜建明、卜予城
10	一种控制三相桥的信号生成方法	发明专利	实质审查的生效、实质审查的生效、公布	CN202411545633.0	2024-11-01	CN119420223A	2025-02-11	柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉
11	一种高温经时击穿试验装置	实用新型	授权	CN202421938618.8	2024-08-09	CN223217605U	2025-08-12	卜予城、王怀伟、卜建明、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮
12	一种芯片测试设备及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410702191.X	2024-06-01	CN118549426A	2024-08-27	沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
13	一种芯片编带装置	实用新型	授权	CN202421117672.6	2024-05-21	CN222522930U	2025-02-25	沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
14	一种料盘移动装置	实用新型	授权	CN202421125449.6	2024-05-21	CN222646985U	2025-03-21	沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
15	一种芯片老化测试安装装置	实用新型	授权	CN202421137759.X	2024-05-21	CN222719669U	2025-04-04	沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
16	一种IGBT模块无功功率的测试设备	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410199456.9	2024-02-23	CN118625082A	2024-09-10	郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城
17	SIC模块大电流测试电路	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311868677.2	2023-12-29	CN117878826A	2024-04-12	郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城
18	一种IGBT模块的测试装置	实用新型	授权	CN202323562385.4	2023-12-26	CN221631587U	2024-08-30	林曙亮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
19	一种多路NTC采集线路	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311670344.9	2023-12-07	CN117629446A	2024-03-01	翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
20	一种微波控制板自动校准装置	实用新型	授权	CN202323217083.3	2023-11-28	CN221101310U	2024-06-07	黄珽瑮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
21	多应力加速试验分析方法、电子设备和可读存储介质	发明专利	授权、实质审查的生效、公布	CN202311526277.3	2023-11-16	CN117252040B	2024-02-06	胡世松、黄厚超、方作宾、方小阳、陈鹏、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城
22	一种晶圆上下料机及校准方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311471154.4	2023-11-06	CN117607647A	2024-02-27	马雨雷、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城、胡世松
23	高低温试验箱	外观专利	授权	CN202330662091.5	2023-10-13	CN308592636S	2024-04-19	卜建明、周玉军、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐、卜予城、吴涓
24	一种用于电容器的老练试验设备	实用新型	授权	CN202322744323.9	2023-10-13	CN220983409U	2024-05-17	林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
25	一种风冷大功率电源模块的试验装置	实用新型	授权	CN202322733461.7	2023-10-12	CN221303534U	2024-07-09	翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
26	一种K系数测试仪	实用新型	授权	CN202322721251.6	2023-10-11	CN221261032U	2024-07-02	陈承静、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
27	一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置	实用新型	授权	CN202322691409.X	2023-10-08	CN221765600U	2024-09-24	轩艳文、王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城
28	一种滤波器实验测试装置	实用新型	授权	CN202322551878.1	2023-09-20	CN221595130U	2024-08-23	高广奎、周玉军、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
29	一种高速ADC/DAC的测试系统及方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311179870.5	2023-09-13	CN117572195A	2024-02-20	谭玉龙、杨坦、周玉军、方小阳、柴俊标、胡世松、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
30	晶圆老化测试设备	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311069392.2	2023-08-24	CN116774019A	2023-09-19	卜建明、林泽涛、林曙亮、柴俊标、胡世松、余亮、廖剑、贺庭玉、叶向宏
31	基于SiC功率器件的测试系统和方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310655926.3	2023-06-05	CN116520122A	2023-08-01	杜磊、柴俊标、贺庭玉、余亮、廖剑、卜建明
32	一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310580672.3	2023-05-22	CN116660734A	2023-08-29	杨坦、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、谭玉龙
33	一种微波器件的结温控制系统和方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310525841.3	2023-05-08	CN116520059A	2023-08-01	卜建明、马杨波、柴俊标、胡世松、贺庭玉、廖剑、余亮
34	一种GaN功率循环测试系统及方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310387221.8	2023-04-06	CN116679180A	2023-09-01	柴俊标、叶向宏、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉
35	一种高压大电流的动态老化测试系统	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202320490150.X	2023-03-15	CN219552493U	2023-08-18	陈承静、卜建明、廖剑、余亮、柴俊标、贺庭玉
36	自动开关门试验箱	外观专利	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202330108226.3	2023-03-10	CN308226995S	2023-09-15	周玉军、余亮、卜建明
37	一种裸芯级恒温密闭装置	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310202567.6	2023-02-24	CN116184170A	2023-05-30	柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
38	基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202310194884.8	2023-02-24	CN116466204A	2023-07-21	陈承静、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
39	一种双面水冷负压夹具	发明专利	授权	CN202310059285.5	2023-01-18	CN116298406B	2025-12-12	周玉军、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮
40	一种T/R组件控温测试装置	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202320132284.4	2023-01-16	CN219552647U	2023-08-18	高广奎、柴俊标、余亮、贺庭玉、廖剑、卜建明
41	一种老化箱的多单元风道结构	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202320060525.9	2023-01-10	CN219533212U	2023-08-15	詹锡林、柴俊标、余亮、贺庭玉、廖剑、卜建明
42	基于自适应蚁群算法的任务分配方法和系统	发明专利	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、实质审查的生效、公布	CN202211688249.7	2022-12-28	CN115689252B	2023-06-23	胡世松、黄厚超、卜建明、贺庭玉、余亮、廖剑、柴俊标
43	一种多功能偏置试验方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202211513109.6	2022-11-30	CN115684863A	2023-02-03	林曙亮、叶向宏、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
44	一种TR组件的测试装置和方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202211444537.8	2022-11-18	CN115825621A	2023-03-21	柴俊标、廖剑、卜建明、贺庭玉
45	一种射频器件的高温测试装置	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202223095343.X	2022-11-16	CN218679090U	2023-03-21	柴俊标、周玉军、高光奎、廖剑、卜建明、贺庭玉
46	一种HPD器件自动化测试装置	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202223043088.4	2022-11-16	CN218995567U	2023-05-09	周玉军、余亮、张发奎、卜建明、贺庭玉、廖剑
47	一种多工位结温测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202211270067.8	2022-10-18	CN116106708A	2023-05-12	翁锡龙、卜建明、贺庭玉、余亮、廖剑、柴俊标
48	一种车规级MCU器件TDBI测试方法	发明专利	发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布	CN202211239500.1	2022-10-11	CN115856567A	2023-03-28	杨坦、谭玉龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮
49	一种集成电路的测试装置	发明专利	授权、著录事项变更、公布	CN202211239679.0	2022-10-11	CN115436787B	2025-08-26	杨坦、卜建明、贺庭玉、余亮、廖剑、柴俊标
50	一种热阻测试的设备	实用新型	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权	CN202222334517.7	2022-09-02	CN218272070U	2023-01-10	柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮

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